通信用光電子器件環(huán)境試驗
試驗范圍
1、有源器件:有源器件包括光源、光檢測器和光放大器,這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件,和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件:光無源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
通信用光電子器件環(huán)境試驗
試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J及導(dǎo)則:長霉
GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 實驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T 2423.57-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2-81部分:試驗方法 試驗Ei:沖擊 沖擊響應(yīng)譜合成
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fi:振動 混合模式
GB/T 2423.60-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分:支持文件和導(dǎo)則 振動試驗選擇
GB/T 29309-2012 電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗規(guī)程 高加速壽命試驗導(dǎo)則
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的機(jī)械沖擊試驗、變頻振動試驗、高溫貯存試驗、低溫貯存試驗等環(huán)境試驗服務(wù)。
通信用光電子器件環(huán)境試驗
試驗背景
我國近些年來也加強(qiáng)了對通信事業(yè)發(fā)展的研究,也取得了一定的發(fā)展成效,尤其是光電子器件在光纖通信中的應(yīng)用發(fā)揮了很大的作用。光電子器件在光纖通信中的應(yīng)用,一方面提高了通信的速度,另一方面也產(chǎn)生了更大的經(jīng)濟(jì)效益,將通信行業(yè)帶入了一個新的發(fā)展時代。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰?,為通信用光電子器件提供專業(yè)的機(jī)械沖擊試驗、變頻振動試驗、高溫貯存試驗、低溫貯存試驗等環(huán)境試驗服務(wù)。
通信用光電子器件環(huán)境試驗
試驗方法
機(jī)械完整性試驗:機(jī)械沖擊試驗、變頻振動試驗、熱沖擊試驗、光纖扭力試驗、光纖側(cè)向拉力試驗、光纖拉力試驗、引腳牢固性試驗、連接器插拔耐久性試驗、受力傳輸試驗
環(huán)境試驗:高溫貯存試驗、低溫貯存試驗、溫度循環(huán)試驗、恒定濕熱試驗、抗潮濕循環(huán)試驗、高溫壽命試驗
物理特性試驗:密封性試驗、芯片剪切力試驗、可焊性試驗、引線鍵合強(qiáng)度試驗、可燃性試驗