納米薄膜檢測
健明迪檢測提供的納米薄膜檢測，檢測項目：厚度檢測，缺陷檢測，指標(biāo)檢測等，檢測標(biāo)準(zhǔn)參考 GB/T30447-2013納米薄膜接觸角測量方法 GB/T338，具有CMA，CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
檢測標(biāo)準(zhǔn)參考
GB/T 30447-2013納米薄膜接觸角測量方法
GB/T 33826-2017玻璃襯底上納米薄膜厚度測量 觸針式輪廓儀法
GB/T 36969-2018納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測定納米薄膜厚度的方法
